ミツトヨ、第39回エレクトロテストジャパンで最新測定技術を披露

株式会社ミツトヨがエレクトロテストジャパンに出展

株式会社ミツトヨは、2025年1月22日（水）から1月24日（金）までの3日間にわたり、東京ビッグサイトで開催される「第39回エレクトロテストジャパン」に出展します。この展示会は、電子機器の検査、試験、測定を専門とする展示会で、RX Japan株式会社が主催しています。

展示会の詳細

ミツトヨブースでは、テーマとして「高度化する“はかる” に挑む画像測定のミツトヨ」を掲げ、電子や電気、半導体製品の生産性を向上させるためのさまざまな測定技術を提案します。来場者は、事前に主催者のホームページで登録することで、無料で入場可能です。

- 展示会名: 第39回エレクトロテストジャパン
- 会期: 2025年1月22日（水）～24日（金）10:00 ～ 17:00
- 会場: 東京ビッグサイト
- 小間番号: E17-32（東2ホール）
- 入場料: 無料（事前登録制）
- 主催者: RX Japan株式会社
- 主催者HP: RX Japan

出展製品

ミツトヨは、以下の製品を展示する予定です。

1. 非接触3D計測システムクイックビジョン WLI Proシリーズ
半導体の先端パッケージ基板測定に最適な、WLI（白色光干渉）ユニットを用いた3D計測システムを提案します。

2. CNC画像測定機クイックビジョンProシリーズ
パワー半導体などの高速測定により、生産性向上を図る機器の紹介を行います。

3. 焦点距離可変レンズ TAGLENS
赤外線に対応した顕微鏡システムと組み合わせ、全焦点撮影を可能にするTAGLENSの透過観察に関する提案です。

4. 白色光干渉光学ユニット WLI-Unit
白色干渉を用いて3D形状測定を簡単に実現できるユニットの紹介。