半導体業界必見！欠陥検査データ活用セミナーのご案内

半導体業界必見のオンラインセミナー開催

半導体産業における品質管理の重要性は日々増しています。この業界で直面する課題の一つは、製造プロセスにおけるウェハー不良の原因特定です。NTTコムオンライン・マーケティング・ソリューション株式会社は、2025年9月11日(木)に、_{オンラインセミナー}_を開催します。このセミナーは、特に半導体業界のプロフェッショナル、品質保証・品質管理部門の方々にとって非常に有益な内容となっています。

ウェハー不良の原因特定

ウェハー不良は、製造プロセスの初期段階において特に問題視されることが多いです。この問題が解決されない限り、最終製品における品質が保証されることはありません。セミナーでは、_Spotfire_というビジュアルデータサイエンスツールを駆使し、ウェハー検査におけるデータを分析する方法を紹介します。多様なマップパターンを比較し、特有の相関関係を見出すことで、不良発生の根本的な原因を探ります。

セミナー概要

- 開催日: 2025年9月11日(木) 13:00～13:45
- 参加対象: 半導体業界の関係者や、品質管理に関心を持つ方
- 参加費用: 無料(事前登録制)

本セミナーでは、講師としてNTTコムオンラインのデータサイエンティスト、三上康男氏が登壇します。三上氏は、大手製造メーカーの経験を持ち、現在はデータ活用の専門家として、企業のプロセス改善に貢献しています。

参加者には、オンラインでの参加方法についての案内が、事前登録したメールアドレスに送信されます。オンライン環境が整ったデバイスを用意するだけで、手軽に参加できます。

お申し込み

参加希望の方は、公式ウェブサイトから事前申し込みを行ってください。定員に限りがあるため、早めの申し込みをおすすめします。

NTTコムオンラインは、『データ活用とテクノロジーで、企業の進化を支え抜く。』を企業のミッションとして掲げています。セミナーを通じて、参加者の皆様に新たな発見と学びを提供し、品質管理の向上に繋げられることを願っております。

一緒に、より良い半導体製造を実現するための知識を深めましょう！

詳しくは、公式サイトをご覧ください。

【お問い合わせ】
セミナー運営事務局までご連絡ください。
Email: [email protected]