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2025年国際カンファレンス『SWTest Asia 2025』での技術発表

株式会社ヨコオ（本社：東京都千代田区）が、2025年11月20日から22日までの3日間、福岡県福岡市にて開催される国際カンファレンス「SWTest Asia 2025」に出展します。このカンファレンスは、半導体ウエハーおよびダイレベルの測定に焦点を当てたもので、業界の専門家たちが最新の技術や研究成果を発表します。

カンファレンスの概要

「SWTest Asia」は、アメリカ発祥で30年以上の歴史を持つ国際的なカンファレンスです。このイベントは、半導体業界のエキスパートが集まり、最新技術を共有し、課題に対する解決策を見出すための貴重な場となることを目指しています。

福岡市での開催は、昨年に続くもので、日本国内において今後の半導体技術の発展に寄与する場として注目されています。

株式会社ヨコオの発表内容

株式会社ヨコオは、以下の3つのテーマで技術論文を発表し、さらにポスター掲示を行います。発表予定は次の通りです：

1. 技術論文1: 「A Compact OTA Measurement System with a Lens-Equipped Anechoic Chamber for Antenna-in-Package Modules」
日時: 11月21日（金）11:30～12:00
このテーマでは、アンテナパッケージモジュールのためのレンズ装備の無響室を利用したコンパクトなOTA測定システムについての考察が行われます。

2. 技術論文2: 「Opto-electronic probe card with single-mode fiber array for wafer-level PIC testing」
日時: 11月21日（金）14:30～15:00
ウェハーレベルのPICテスト向けに設計されたシングルモードファイバーアレイを用いた光電子プローブカードについての発表です。

3. ポスター掲示:「Evaluation of Palladium Alloy Probe with Suppressed Sn Diffusion Reaction」
期間: 11月20日（木）～21日（金）
パラジウム合金プローブの評価を行うと同時に、スズ拡散反応を抑制したプローブの効果について探究します。

まとめ

「SWTest Asia 2025」は、半導体技術の最前線に立つ専門家たちの集まりであり、株式会社ヨコオもその一翼を担うことになります。参加者は最新の成果を学び、技術の共有を通じて新たなネットワークを構築する良い機会でしょう。
これからの成長が期待される半導体業界において、ヨコオの取り組みは貴重な知見を提供することでしょう。お楽しみに！

（注）本情報は報道発表日時点のものであり、今後内容が変更される可能性があります。あらかじめご了承ください。

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