計量標準総合センター オープンデイの魅力
2026年4月13日と16日、産業技術総合研究所・計量標準総合センター(NMIJ)が主催する「計量標準総合センター・オープンデイ」が開催されます。このイベントは、最新の計測技術やナノスケールでの材料評価の可能性を学ぶ絶好のチャンスです。
イベントの目的と見どころ
本イベントは、NMIJが1年の研究成果を広く社会に発信し、産業界や研究機関との連携を深めることを目的としています。主催者は、これまでの成果をもとに、幅広いトピックを用意して参加者に新しい知見を提供します。
オンライン形式で行われるこのイベントは、物理における計測技術の最新の進展を再確認する良い機会です。特にナノスケールの材料評価技術にフォーカスをあてたコンテンツが充実していますので、興味のある方は必見です。
提供される計測技術トピック
1.
熱マネジメント技術: 薄膜の面直・面内方向における熱拡散率測定技術
2.
SEM観察技術: 質の高いデータを得るための多角的な観察技術
3.
リアルタイム粒子計測技術: 品質管理に役立つ粒度精密化技術
4.
X線マルチスケール分析: 新たな構造動態解析技術
5.
陽電子を用いた空孔計測: 非破壊で評価可能な新技術
これら5つのトピックは、いずれも産業界でのニーズに応える内容となっています。特に、半導体デバイスや新しい材料の開発に携わる方々にとって、貴重な情報源となるでしょう。
参加をオススメしたい方
本イベントは、以下のような方々にとって特に有意義です:
- - 薄膜材料の熱的特性評価を行いたい方
- - SEMの運用や結果解釈のスキルを向上させたい方
- - 生産ラインで実用的に粒子を計測したい技術者
- - 放射光X線を使用した材料評価に興味がある研究者
- - ナノスケールの空孔を評価したい方
このようなニーズをお持ちの方々には、特に価値のあるセミナーとなることでしょう。
お申し込み方法と詳細情報
参加は無料で、ウェビナーはオンラインで配信されます。ブラウザを通じて簡単に視聴が可能です。
開催概要
- - 日時: 2026年4月13日(月)10:00~11:30、4月16日(木)15:00~16:30(同内容)
- - 参加費: 無料
視聴方法や詳細情報は、
こちらのリンクからご確認ください。
終わりに
産業技術総合研究所は今後も多彩なテーマでウェビナーを企画しています。皆様のご参加を心よりお待ちしております。
途中での確認や質問があれば、事務局にお問い合わせください。電子メールでの連絡先は、
[email protected]です。