ピカリング、次世代MEMSベースのMultiGBASE-T1試験モジュールを発表

ピカリングの新しい試験モジュール

電気テストと検証のリーディング企業であるピカリングインターフェースが、最新のMEMS（微小電気機械システム）を搭載した新しいMultiGBASE-T1 FIUを発表しました。この製品は、PXIシステム向けの障害挿入ユニットとして設計された重要なモジュールであり、特に車載用のHIL（Hardware-in-the-Loop）シミュレーションに最適化されています。

新たに登場した40-205（PXI）と42-205（PXIe）モジュールは、シングル・スロット・フォームファクタを採用し、特に高速通信プロトコルにおける障害をシミュレーション可能です。このデザインにより、最新のMultiGBASE-T1試験要件にも適合。一方で、リードリレーや電磁リレー（EMR）の限界を克服し、高速な帯域幅を実現するために、高度なMEMSスイッチが採用されています。

高速動作と耐久性の向上

この新しいモジュールは、50μsの高速動作を実現しており、試験システムのスループットを大幅に向上させ、これにより長時間の運用も可能にします。さらに、30億回を超える動作寿命を持つため、耐久性も抜群です。結果として、長期間の稼働が可能になり、システムのダウンタイムも最小限に抑えることができます。

ピカリングのプロダクトマネージャであるSteven Edwards氏は、「MEMSをベースとした我々の最新モジュールは他のスイッチング技術では得られない性能を持っています。これにより、特に最新のMultiGBASE-T1プロトコルで求められる高速な帯域幅を確保できる。これこそが車載用システム設計の新たな選択肢です」と語っています。

幅広い対応力

このモジュールは、特にADAS（先進運転支援システム）のコントローラに適しており、ネットワーク速度が最大10Gbpsに達する設計検証に利用されます。また、2線式の障害接続を利用して、外部信号の導入が可能で、複数の接続障害をシミュレーションすることができます。

インピーダンス整合済みの信号パスを4または8チャネルで搭載しているため、古い規格から最新規格の車載イーサネットまでサポートします。この柔軟性により、将来的な試験要件の変化にも適応できるシステムが構築可能です。

信号品質と安定性

最新のMEMSスイッチング技術を採用したこのモジュールは、低い挿入損失とVSWRを実現しています。特に、6GHzを超える周波数帯域でも優れた性能を発揮し、信号パスへのノイズやスプリアスを最小限に抑える設計がなされています。チャネルごとに最大0.5Aの対応が可能で、ペアケーブル間の定格電圧は100Vとなっています。