半導体プロセスの検査技術を学ぶオンラインセミナーが開講予定

2026年5月22日、株式会社AndTechが主催するZoomセミナーが予定されています。この講座では、半導体プロセスにおける検査と解析技術の基礎から最新動向について詳しく学ぶことができます。近年、増加する半導体プロセスの検査・解析ニーズに対し、しっかりと応える内容となっています。

プログラムの概要

このセミナーのテーマは、「半導体プロセスにおける検査・解析技術の全体像と基礎原理」です。特に光と電子を組み合わせた新しい解析技術に焦点を当て、物理学の観点からの理解を深めていきます。

講師

講師は、東京大学大学院新領域創成科学研究科の藤原弘和氏で、元キオクシアにて半導体デバイス開発に従事していた実績を持つ専門家です。彼は半導体技術の最前線で活動してきた経験を活かし、参加者に最新のトレンドと技術を提供します。

セミナーの詳細

参加費は税込で45,100円となり、資料は電子形式で配布されます。また、本セミナーは「Zoom」を使用して行われるため、オンライン環境から参加したい方は申し込み後に送られるURLを利用してアクセスすることができます。

プログラム内容

セミナーでは、以下の内容が予定されています：
1. 半導体プロセスと検査
- 半導体集積回路のロードマップ
- 検査の種類と用途
2. 光学検査の基礎
- 光学顕微鏡、レーザー顕微鏡
3. 電子線検査の基礎
- 走査型電子顕微鏡（SEM）
4. 走査プローブ検査の基礎
5. 最近の検査・解析技術の動向
6. 将来展望とまとめ

この構成により、参加者は半導体プロセス検査技術の幅広い理解を得られるでしょう。

参加する理由

このオンラインセミナーは、検査・解析に関する知識の強化を目的としています。半導体業界において最新技術を学ぶことは、競争力を維持するために非常に重要です。このセミナーに参加することで、今後の技術革新に備えるための基盤を築くことができます。特に最近の技術課題に対する解決策を見出す手助けとなることでしょう。