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原子間力顕微鏡が切り開く新たな研究の地平

日本の科学技術の発展の一環として、原子間力顕微鏡（AFM）の分野には常に新たな挑戦と進歩が見られます。そのパイオニアとして知られるパーク・システムズは、特に「電気測定 via AFM」というテーマでウェビナーシリーズを開催することが発表されました。このシリーズでは、AFMを用いた電気特性の物性測定について、業界のエキスパートたちから貴重な知見が提供される予定です。

このウェビナーシリーズでは、C-AFM、KPFM、PFMといった具体的な測定技術の応用に焦点を当てていますが、単なる測定だけに留まらず、サンプルプレパレーションに至るまで幅広い内容をカバーしています。参加することで、原子間力顕微鏡を利用した研究の最前線についてより深く理解できる貴重な機会となるでしょう。これらの内容を講演するのは、東京工業大学の中嶋研究室から梁暁斌特任助教や東京都立大学の宮田耕充准教授、さらにはパーク・システムズ・ジャパンとパーク・システムズ・ヨーロッパのアプリケーションサイエンティストたちです。

開催日程と各回の内容

ウェビナーは、2021年6月から9月の間で全4回にわたって開催されます。具体的な日程や内容は次の通りです：

• - 第一回目: 2021年6月25日（金）

テーマ: 原子間力顕微鏡による高分子ナノ力学物性の計測
AFMの技術的な側面から、高分子ナノ力学物性のメカニズムや実験手法について詳しく解説します。

• - 第二回目: 2021年7月30日（金）

テーマ: 二次元半導体の成長と機能開拓
近年注目を浴びている二次元材料の合成方法や特性についての講演が行われます。

• - 第三回目: 2021年8月27日（金）

テーマ: 圧電応答測定（PFM）
PFM技術による圧電材料の特性解析とその応用の未来について解説するセッションです。

• - 第四回目: 2021年9月24日（金）

テーマ: 半導体薄膜のエネルギー準位と電荷輸送研究のためのKPFM
KPFMの詳細とその応用範囲について説明される機会です。

各ウェビナーはそれぞれ独立したテーマを持ち、参加者は興味のある内容を選んで参加できます。登録は6月8日から開始されますので、詳細情報は公式ウェブサイトをご覧ください。ウェビナーへの参加は、最新の研究動向に触れるだけでなく、専門家とのネットワーキングを図る良い機会ともなるでしょう。

参加登録

ウェビナーに参加するには、以下のリンクから登録を行ってください。簡単な登録手続きで、オンラインでの参加が可能となります。
ウェビナー参加登録はこちら

パーク・システムズのウェビナーシリーズ「電気測定 via AFM」は、科学技術の新しき地平を探る貴重なプラットフォームとなることでしょう。興味のある方々の参加をお待ちしています。

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