株式会社ヨコオが「SEMICON Japan 2025」に出展予定！最新の検査技術を紹介

株式会社ヨコオの出展概要

株式会社ヨコオ（本社：東京都千代田区）は、2025年12月17日（水）から19日（金）まで東京ビッグサイトで開催される「SEMICON Japan 2025」に出展することを発表しました。この展示会では、今後の需要が期待される光電融合デバイスおよびミリ波帯無線デバイス用の革新的な検査技術を紹介します。

展示する技術

今回の出展内容の中心となるのが、光電検査プローブカードとミリ波帯アンテナインパッケージモジュール用OTA（Over The Air）検査装置です。両製品は2026年の量産化を目指して開発が進められており、次世代通信技術とその関連市場への対応が見込まれています。

光電検査プローブカード

この革新的なプローブカードは、光電子集積回路（PIC）ウエハ検査に特化した設計が特徴です。垂直電気プローブと光ファイバーアレイを一体構造で組み込んでおり、マイクロアクチュエーターによる光軸調整機構を搭載しています。この技術により、光信号と電気信号を一度の測定で同時に評価でき、データセンター向けのフォトニクスデバイスおよび光電融合型デバイスでの効率や精度が向上することが期待されています。

ミリ波帯アンテナインパッケージモジュール用OTA検査装置

次に紹介するのが、ミリ波帯アンテナインパッケージモジュール用のOTA検査装置です。この装置は無線性能を評価するためのもので、レンズ付き電波暗室を採用しており、電波収束による空間損失の補正が可能です。その結果、小型化された測定領域において、最大25デバイスの同時測定が実現され、検査密度の向上にも寄与しています。特に、6G対応デバイスや車載レーダー、医療用通信モジュールなど、高い信頼性が要求される分野での活用が見込まれています。

進化する通信技術と市場のニーズ

近年、自動運転や遠隔医療といった分野では、電波遅延や通信の瞬断が許されない状況が増加しています。これに対応するためには、通信の連続性や高い信頼性が求められます。5Gや6Gといった次世代通信技術の進展により、有線・光・無線の複数方式を組み合わせたデバイス設計が一般化しています。このような背景から、信号品質や安定性を保証する検査技術の重要性が高まっています。