リガクの栄冠:X線装置が地方発明表彰で評価
リガク・ホールディングスのグループ企業である株式会社リガク(本社:東京都昭島市)は、令和6年度の地方発明表彰において、特別賞を2年連続で受賞しました。この受賞は、世界的に評価されるX線分析装置を手がける企業としての地位を一層確固たるものにするものです。
受賞内容について
今回の表彰では、リガクが保有する3つの特許技術に対して特別賞が授与されました。具体的に受賞した特別賞は以下の2件です:
1.
化合物ウェーハ検査用X線トポグラフィ装置: この装置は、パワー半導体の品質管理や研究に革新をもたらします。化合物半導体ウェーハの結晶欠陥を非破壊で計測できるため、電力の変換ロスを大幅に削減します。さらに、欠陥の位置や種類を高感度で特定することが可能であり、多くの研究者や技術者にとって欠かせない存在となっています。
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発明者: 表和彦、上ヱ地義徳、松尾隆二、菊池哲夫
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受賞名: 関東地方発明表彰特別賞「中小企業庁長官賞」
2.
ウェーハエッジ測定可能なTXRF検査装置: この技術は、ウェーハエッジ付近における汚染物質の計量を高感度かつ迅速に行うことが可能です。これにより、ウェーハ全体の汚染状態を的確に把握でき、品質管理をより効果的に行うことができます。
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発明者: 清水康裕、河野浩、池下昭弘
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受賞名: 近畿地方発明表彰特別賞「大阪発明協会会長賞」
これらの成果は、リガクがX線技術のスペシャリストとしての責任を果たしていることを示しています。今後も新しい技術の開発や革新に取り組み、業界をリードしていくことが期待されます。
発明奨励賞の受賞
リガクはまた、発明奨励賞にも輝きました。それは「息止めセンサー不要の呼吸同期X線CT」という技術です。この技術は、従来の方法では必要だったセンサーを排除し、呼吸と同期した撮影を効率よく行うことができます。多くの技術者にとって、CT撮影がより簡単かつ安全に行えることは大きな利点です。
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発明者: 原幸寛、山田鮎太
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受賞名: 関東地方発明表彰「発明奨励賞」
リガクの未来
リガクは、1951年の創業以来、X線分析を中心にさまざまな技術を開発し続けてきました。現在、90か国以上で事業を展開し、半導体や電子材料、環境・エネルギーなど幅広い分野に応用されています。特に、日本国内では非常に高い市場シェアを持ち、海外売上は約70%に達しています。
リガクグループの理念は、「視るチカラで、世界を変える」というものであり、2,000名以上の従業員がその実現に向けて日々努力を重ねています。これからもリガクがX線技術を基盤に多くの革新を生み出し、さらなる発展を遂げることを期待しています。詳しくは
rigaku-holdings.comをご覧ください。