カールツァイス、オックスフォード、JFEが次世代材料解析のウェビナーをオンデマンド配信

次世代材料解析セミナーの成功とオンデマンド配信

2025年10月16日、カールツァイス株式会社、オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社、JFEテクノリサーチ株式会社の3社が合同で開催した「次世代材料解析セミナー」が、300名以上の参加者を集め大好評でした。

このウェビナーは、「見えなかった・見ていなかった表面構造をULV-SEM最新技術と高感度EDXでとらえる! ～解析のポイント×顕微鏡技術×革新機器が融合する」ことをテーマにしています。参加者は、材料開発や品質管理での最新技術の利点を学ぶことができ、特に走査電子顕微鏡（SEM）とエネルギー分散型X線分光法（EDX）の融合について多くの知見を得られたようです。

参加者からは「大変勉強になり有意義だった」「内容、ボリューム、進行ともに素晴らしく、学びの多いセミナーでした」など、非常に高い評価を受けました。特に、ウェビナーが3時間にも及んだにも関わらず、80%以上が最後まで聴講したというエンゲージメントの高い結果が得られました。

ウェビナーで紹介された最新技術

本ウェビナーでは、以下のような最先端技術と応用事例が紹介されました。

1. カールツァイスのGemini SEM: 画像取得と高感度元素分析を両立させる「sweet spot imaging」技術
2. オックスフォード・インストゥルメンツの新型EDX検出器: 「Ultim Extreme Infinity」と「Unity」による高速・高精度組成分析
3. JFEテクノリサーチの解析アプリケーション事例: さまざまな先端技術の活用。

これらの技術は、次世代の材料解析において重要な役割を果たすものです。