株式会社ヨコオが、米国カリフォルニア州カールスバッドで開催されたSWTest2025で、技術ポスター発表を通じて初の「Best Poster Presentation賞」を受賞しました。この国際会議は、半導体ウエハーおよびダイレベルのテスト技術に特化した唯一の専門会議であり、1990年代から毎年開催されています。今年のイベントは6月1日から4日までの期間にわたり、Omni La Costa Resort & Spa in Carlsbadで行われました。大会には、業界のトップサプライヤーが集まり、最新のプローブカードや関連技術についての意見交換が行われました。
ヨコオが受賞した「Best Poster Presentation賞」は、このような国際会議での権威あるものであり、業界の中でも特に評価される意味を持っています。この受賞は、同社が最新の技術開発に取り組んでいる証でもあります。特に、現代社会ではAI技術の活用や大量のデジタルデータ処理が求められており、信号伝送の高速化と低消費電力化は必須となっています。そのため、ヨコオは従来の電気信号処理技術だけではなく、光信号処理技術を積極的に採用しており、今回の受賞にもその成果が現れています。
技術ポスター発表では、ヨコオが開発した光電融合プローブカードが紹介されました。このプローブカードは、多チャンネルの光ファイバーアレイを組み込んだもので、ウエハーレベルにおいてシリコンフォトニクスチップの検査に対応可能です。この技術は、今後の半導体デバイスの進化において不可欠な要素となるでしょう。
ヨコオは、長年にわたって培ったコア技術を活かし、社会のニーズを先取りした技術開発に取り組み続けるとともに、持続可能な社会の実現に寄与していく所存です。技術の進化は、今後も様々な社会的課題の解決に貢献するでしょう。
この受賞により、ヨコオの技術がさらに多くの人々に知られることを期待したいと思います。今後の活動にも大いに期待が寄せられています。
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