ZEISSの新型3D X線顕微鏡が日本市場で本格始動へ

ZEISSが日本市場に投入する革新的な3D X線顕微鏡

カールツァイスが新たに発表した超高分解能X線顕微鏡VersaXRM 730が、日本でのプロモーションを本格的に開始します。この顕微鏡は、先進の3Dイメージング技術を駆使し、研究者にとって画期的なツールとなることが期待されています。

VersaXRM 730の特長

この新しいX線顕微鏡には、いくつかの優れた機能があります。まず最も優れた特徴は、その高空間分解能で、450nmという空間分解能を保つことが可能です。この高解像度により、物質の内部構造を非破壊で詳細に観察でき、今までの研究を一新させるポテンシャルを誇ります。

さらに、最高管電圧160kVを使用することで、空間分解能500nm、作動距離100mmで750nmの幅広い条件での観察ができ、さまざまなサンプルに対して柔軟に対応できます。

また、FAST Modeにより、1分間の断層撮影が可能になり、迅速かつ多くのデータ収集が実現します。この機能は、特に研究のスピードが求められる状況で非常に有用です。

直感的な操作と高性能AI

操作面でも見逃せない点があります。ZEISSのZENnavx(TM)を搭載し、直感的なインターフェースが特徴です。このソフトウェアは、2024年のレッドドット「Best of the Best interface design」賞を受賞しており、誰でも簡単に扱うことができる設計がなされています。

また、DeepRecon Proによる高性能AIが画像処理の精度を向上させており、より詳細な情報を得ることができます。これにより、研究者はより深い洞察を得ることができ、実験の効率を一層高めることが可能となります。

新たな可能性を秘めたZENSnavx

ZEN navxは、顕微鏡操作をシンプルにし、生産性を向上させるための統合的なシステムです。このガイダンスや自動化機能により、初心者から経験豊富なユーザーまで、幅広く活用できるようになっています。

さらに、SmartShield機能は、システムとサンプルの衝突を防ぎ、保護してくれます。データの転送も、ZEN navx File Transfer Utility(FTU)を使えば、簡単に、しかも自動的に行われます。これにより、研究者は必要な情報を即座に手にすることができます。

将来の研究に寄与する高速断層撮像

VersaXRMシリーズのオプションとして、Flat Panel Extension(FPX)があり、これを利用することで更なる高速断層撮影を実現します。FAST ModeがZEN navxに完全に組み込まれており、迅速な3Dデータセット上でのナビゲーションを可能にします。

この顕微鏡の登場により、さまざまなサンプルの内部構造をより効率的に可視化できるようになると期待されており、今後の研究に新たな明かりをもたらすことでしょう。

テクニカルワークショップの開催

カールツァイス株式会社は、11月28日(木)に東京麹町オフィスにて「全固体電池解析とエレクトロニクス品質信頼性向上に寄与する高分解能X線顕微鏡」のテクニカルワークショップを開催します。このイベントではVersaXRM 730の実機を披露します。

さらに、12月11日(水)から13日(金)まで東京ビッグサイトで開催されるSEMICON Japan 2024にも出展し、VersaXRM 730に適したアプリケーションの数々を紹介する予定です。